产品介绍
HPS2561四探针电阻率测试仪
测试参数:电压, 电阻率, 方阻, 电阻
四探针电阻率测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量。
HPS2561四探针电阻率测试仪
性能特点
v 高电阻精度:0.05%
v 高达30通道/秒
v 每个通道独立设定上下限
v 具有低阻测试模式,有效保护被测件
v 高10档量程,手动和自动模式
v 可根据实际需要任意选择总通道数提高测量效率
v 中英文可选操作界面
v 完备的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制
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